-
Nebula kantava seadme liitiumaku PCM-i testimissüsteem
BAT-NEWS-04-V002 on ülitäpne ja kiire tester iseseisva kantava liitiumaku kaitse trükkplaadi põhiomaduste ja kaitseomaduste hindamiseks, mistõttu sobib see juhtmevabade kõrvaklappide, elektriliste hambaharjade ja nutikellade liitiumaku kaitseplaadi hindamiseks. , nutikad prillid ja muud kantavad vidinad.
-
Nebula mobiiltelefoni digitaalsete toodete aku PCM testimissüsteem
See seade on loodud ühe siini liitiumioonakude kaitseplaatide põhi- ja kaitsefunktsioonide kiireks hindamiseks 1s ja 2s akude jaoks, kasutades USA TI-seeriaid (nagu BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2735) hõlmavat IC-d.
-
Nebula sülearvuti liitiumpatarei PCM-testisüsteem
See on PCM-iga integreeritud testimissüsteem, mis sobib sülearvuti liitiumioonakude PCM-i põhi- ja kaitseomaduste hindamiseks.Seda kasutatakse peamiselt Texas Instrumentsi gaasimõõturi IC-de parameetrite allalaadimiseks, kalibreerimiseks ja kaitsefunktsioonide testimiseks (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, BQ40Z0Q0Z5Q0 , BQ27742 ja BQ27741).
-
Nebula 36S Power Battery Pack PCM testimissüsteem
See süsteem sobib 2S-12S (maksimaalselt 16 stringiga) liitiumioonaku kaitseahela moodulite põhiomaduste testimiseks.Samuti toetab see toitehalduse IC-de allalaadimist, võrdlemist ja PCB kalibreerimist (kasutades 12C, HDQ, SMBUS, UART ja muid kohandatud protokolle).Lisaks saab selle integreerida Nebula MES-iga (Manufacturing Execution System) testiandmete juhtimiseks ja jälgimiseks.
