bänner

< Nebula sülearvuti liitiumpatarei PCM-i testimissüsteem >

Nebula sülearvuti liitiumpatarei PCM-testisüsteem

See on PCM-iga integreeritud testimissüsteem, mis sobib sülearvuti liitiumioonakude PCM-i põhi- ja kaitseomaduste hindamiseks.Seda kasutatakse peamiselt Texas Instrumentsi gaasimõõturi IC-de parameetrite allalaadimiseks, kalibreerimiseks ja kaitsefunktsioonide testimiseks (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, BQ40Z0Q0Z5Q0 , BQ27742 ja BQ27741).

 

FUNKTSIOONID

Ühildub laia valiku ja kõrge testimistäpsusega Gas Gauge IC-dega

Sellel on sõltumatu, mitme kanaliga modulaarne disain, mis hõlbustab hooldust ja asendamist, ning mitmesugused andmeedastusfunktsioonid.

Sõltumatud kanalid testivad paralleelselt samaaegselt, kiirelt ja säästavad inimressursse

SPETSIFIKATSIOONID

Mudel

BAT-NEZ-04-V006

Parameeter

Vahemik

Täpsus

Analoogaku väljundpinge

100 ~ 4800 mV

±1 mV

Analoogaku väljundvool

0 ~ 500 mA

±1mA

Püsivoolu allika väljundpinge

0 ~ 4000 mV

/

Püsivooluallika väljundvool

20A~30A

±20mA

3A~20A

±10mA

20mA ~ 3000mA

±1mA

Analoogaku väljundpinge mõõtmine

100 ~ 4800 mV

±1 mV

Analoogaku väljundvoolu mõõtmine

0 ~ 500 mA

±1mA

Konstantse vooluallika väljundpinge mõõtmine

0-4000 mV

/

Püsivooluallika väljundvoolu mõõtmine

20A~30A

±10mA

3A~20A

5mA

20mA ~ 3000mA

±1mA

kontaktinfo

Kirjutage oma sõnum siia ja saatke see meile