Hiina Nebula mobiiltelefonide ja digitaalsete toodete liitiumaku testimissüsteemi tootja ja tarnija |udukogu

Nebula mobiiltelefonide ja digitaalsete toodete liitiumaku testimissüsteem

See süsteem sobib mobiiltelefonide ja digitoodete liitiumpatareide tootmisliinis komplekteeritud või poolvalmis toodete põhiomaduste hindamiseks, eelkõige kaitse-IC-testi põhiomaduste ja paketiintegreeritud testimissüsteemi (toetav) väljatöötamiseks. I2C, SMBus, HDQ sideprotokollid).

VÕTKE KOHE ÜHENDUST

FUNKTSIOONID

Kirjeldus

See on Packi kõikehõlmav testimissüsteem, mida rakendatakse lõpptoodete/pooltoodete põhi- ja kaitseomaduste testimiseks mobiiltelefonide ja digitaalsete toodete liitiumioonakude tootmisliinidel ning kaitse-IC-del (toetavad I2C, SMBus, HDQ sideprotokolle). ).

Testimissüsteem koosneb peamiselt põhitegevuse testist ja kaitse toimivuse testist.Põhiline jõudluskatse hõlmab avatud ahela pingetesti, koormus-pinge testi, dünaamilise koormuse testi, aku sisetakistuse testi, soojustakistuse testi, ID-takistuse testi, tavalise laadimispinge testi, tavalise tühjenemispinge testi, mahtuvuse testi, lekkevoolu testi;kaitse toimivuse test sisaldab laadimise liigvoolukaitse testi: laadimise liigvoolukaitse funktsiooni, viiteaja kaitset ja taastamisfunktsiooni teste;tühjenemise liigvoolukaitse test: tühjenemise liigvoolukaitse funktsioon, viiteaja kaitse ja taastumisfunktsiooni testid;lühisekaitse katse.

Testimissüsteemil on järgmised funktsioonid: Sõltumatu ühe kanaliga modulaarne disain ja andmearuande funktsioon, mis mitte ainult ei suurenda iga PACKi testimise kiirust, vaid on ka hõlpsasti hooldatav;PACK-i kaitseolekute testimisel tuleb tester lülitada vastavasse süsteemi olekusse.Relee kasutamise asemel kasutab tester suure energiatarbega MOS-kontaktivaba lülitit, et suurendada testeri töökindlust.Ja testandmeid saab üles laadida serveri poolele, mida on lihtne juhtida, kõrge turvalisus ja mida pole lihtne kaotada.Testsüsteem ei paku mitte ainult "Kohaliku andmebaasi" salvestustestisüsteemi testitulemusi, vaid ka "serveri kaugsalvestuse" režiimi.Kõiki andmebaasis olevaid testitulemusi saab eksportida, mida on lihtne käsitleda.Testitulemuste "andmestatistilist funktsiooni" saab kasutada iga katseprojekti "mittetoimivuse määra" ja iga PCM-juhtumi "katse bruto" analüüsimiseks.

Funktsioonid

Modulaarne disain: sõltumatu ühe kanaliga moodulkonstruktsioon lihtsaks hoolduseks	Suur täpsus: pinge väljundi suurim täpsus ± (0,01RD+0,01%FS)
Kiirtest: kiireima katsekiirusega 1,5 sekundit kiirendavad tootmistsüklid oluliselt	Kõrge töökindlus: suure energiatarbega MOS-kontaktivaba lüliti testeri töökindluse suurendamiseks
Kompaktne suurus: piisavalt väike ja lihtne kaasas kanda	——

SPETSIFIKATSIOONID

Mudel	BAT-NEPDQ-01B-V016
Parameeter	Vahemik	Täpsus
Laadimispinge väljund	0,1-5 V	±(0,01% RD + 0,01% FS)
Laadimispinge väljund	5 ~ 10 V	±(0,01%RD+0,02%FS )
Laadimispinge mõõtmine	0,1-5 V	±(0,01%6R.D. +0,01%FS)
Laadimispinge mõõtmine	5 ~ 10 V	±(0,01% RD + 0,01% FS)
Laadimisvoolu väljund	0,1~2A	± (0,01% RD+0,5 mA)
Laadimisvoolu väljund	2-20A	±(0,01% RD+0,02% FS)
Laadimisvoolu mõõtmine	0,1~2A	±(0,01% RD+0,5 mA)
Laadimisvoolu mõõtmine	2-20A	± (0,02% RD+0,5 mA)
PACK pinge mõõtmine	0,1-10 V	±(0,02% RD +0,5 mV)
Tühjenduspinge väljund	0,1-5 V	±(0,01% RD + 0,01% FS)
Tühjenduspinge väljund	0,1-10 V	±(0,01%RD+0,02%FS )
Tühjenemispinge mõõtmine	0,1-5 V	±(0,01% RD + 0,01% FS)
Tühjenemispinge mõõtmine	0,1-10V	±(0,01% RD + 0,01% FS)
Tühjendusvoolu väljund	0,1~2A	±(0,01% RD+0,5 mA)
Tühjendusvoolu väljund	2-30A	±(0,02% RD+0,02% FS)
Tühjendusvoolu mõõtmine	0,1-2A	±(0,01% RD+0,5 mA)
Tühjendusvoolu mõõtmine	2-30A	± (0,02% RD+0,5 mA)
Lekkevoolu mõõtmine	0,1-20uA	±(0,01% RD+0,1 uA)
Lekkevoolu mõõtmine	20-1000uA	±(0,01%RD +0,05%FS)